作者:寇松峰 陈钱 顾国华 季尔优光子计数成像雪崩光电二极管阵列泊松点过程蒙特卡罗仿真
摘要:从APD阵列的响应特性出发,利用随机点的统计学描述,建立了光子计数成像的一维点过程数学模型。通过对光子事件发生时间统计特性的描述,分析了光子密度、门控时间、雪崩光电二极管恢复时间等因素对光子计数成像质量的影响。并采用蒙特卡罗方法,对近红外波段不同光子密度条件下多种计数间隔的成像质量进行了仿真,给出了仿真结果。
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《应用光学》(CN:61-1171/O4)是一本有较高学术价值的大型双月刊,自创刊以来,选题新奇而不失报道广度,服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《应用光学》基本方针:认真贯彻“双百”方针以及国家科技出版业的各项方针政策,实施“科教兴国”战略,重点反映光电子技术国内外的发展状况、研究水平、应用情况,密切跟踪国外高新技术的研究动态,推动我国光电子技术的发展,打造科技成果转化平台,为我国国防现代化与经济建设服务。
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