作者:李宏煦; 王淀佐硫化矿细菌浸出氧化机理电化学半导体溶液界面能带理论
摘要:许多硫化矿物为半导体,硫化矿氧化浸出过程实际是-半导体-溶液界面电子或空穴转移的过程.基于传统的半导体界面氧化理论,系统分析细菌存在时硫化矿-溶液界面电子或空穴转移步骤,提出黄铁矿、黄铜矿、铜兰细菌浸出过程的半导体-溶液界面电子及空穴转移模型,从半导体能带理论角度揭示了硫化矿细菌氧化浸出机理.
注:因版权方要求,不能公开全文,如需全文,请咨询杂志社
《有色金属工程》(CN:10-1104/TF)是一本有较高学术价值的大型月刊,自创刊以来,选题新奇而不失报道广度,服务大众而不失理论高度,颇受业界和广大读者的关注和好评。
省级期刊
人气 11874 评论 10
SCI期刊、CSCD期刊、统计源期刊
人气 4881 评论 6
北大期刊、统计源期刊
人气 4660 评论 10
部级期刊
人气 1652