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我国启动高分辨耐辐照硅探测器研制

作者:盛利硅探测器耐辐照高分辨中国工程物理研究院自主知识产权x射线探测测量设备研究所

摘要:近日从中国工程物理研究院材料研究所获悉,国家重点研发计划“高分辨耐辐照硅探测器的研发与产业化应用”项目日前正式启动。该项目将打破国外垄断,首次研发出一系列具有自主知识产权的“高分辨耐辐照硅探测器”,未来应用于国防特殊辐射测量设备、公共安检X射线探测等诸多领域。

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仪器仪表用户

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