作者：杨光; 邱静; 温熙森; 刘冠军; 徐永诚虚警率传感层bit系统恢复功能改进模型测试性数据异常正常性问题影响因素分析
摘要：机内测试(BIT)系统的虚警率是影响BIT正常使用的主要问题之一.与电子系统相比,由于机电设备的功能和结构的复杂性使得其测试性问题更复杂,其中的虚警问题更加突出.研究以机电设备BIT系统为背景,从传感层对虚警率的影响因素着手,进行系统分析.首先基于BIT系统传感层的物理特性分析虚警率的影响因素并进行归纳和提炼;其次,提出BIT虚警率的分析模型,基于该模型分析结果,为降低BIT系统中的虚警率,提出嵌入BIT传感层数据异常检测和恢复功能的BIT改进模型,并分析了该模型的有效性,导出改进模型中影响虚警率的主要特性参数.最后在某船舶动力装置BIT系统中进行了初步验证.
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