基于混沌遗传算法的故障测试集最小化方法

作者：康波; 陈光(礻禹); 吕炳朝混沌遗传算法故障测试最小化问题测试集混沌序列仿真实验交叉变异操作遍历性对数

摘要：利用混沌序列的随机性、遍历性及规律性等特点来控制遗传算法中交叉与变异操作,即混沌交叉与混沌变异,提出了一种改进的遗传算法--混沌遗传算法,并针对数字集成电路的故障完备测试集的最小化问题的具体特点,分析并设计了基于混沌遗传算法的故障测试集最小化方法,仿真实验验证了该方法的高效性与实用性,其性能明显优于标准遗传算法.

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