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高温HCl环境下设备失效机理分析及腐蚀图谱绘制

作者:张健 蒋晓东 王聪活性氧化高温腐蚀hcl腐蚀图谱

摘要:通过引用Cl2引起的活性氧化理论,分析一套现役蛇管式浸没急冷器的快速腐蚀失效机理。通过理论与实际情况的综合分析,阐述了该设备只在某个特定的部位发生快速腐蚀的原因。结合腐蚀减薄数据和模拟结果绘制了该部位的腐蚀图谱,并由另一设备的实际减薄情况验证了该图谱的可用性。该图谱可作为类似设备设计的依据。

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压力容器

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