作者:李新家荧光光谱分析粒度效应烧结矿矿石原料分析结果线性关系sio2矿物相磨粒度
摘要:在X-射线荧光光谱分析中,粒度效应对原料分析结果的影响已有报道。当颗粒本身的吸收减至很小时,可以消除某些矿物相的影响。如用不同矿物配置生料,有85%的生料通过200目(75μm)时,A,B两组铁矿石原料中SiO2的强度和浓度呈线性关系;当粒度达到325目(44μm)时,两组铁矿石原料的实验点均落在同一曲线上,因此,研磨粒度将直接影响X-射线荧光光谱的分析结果。本文研究了X-射线荧光光谱法分析烧结矿的粒度效应。
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