X射线荧光光谱法测定阳极铜各成分

作者：李莎莎; 陈卫东x射线荧光光谱法阳极铜成分低含量元素表面处理设计过程谱线干扰测定结果熔炼过程归一法推荐值rsd样品基体标样

摘要：研究了X射线荧光光谱法测定阳极铜时样品表面处理的方法,程序设计过程中基体、谱线干扰,分析低含量元素时谱线背景的扣除等问题;对基体铜的测定采用了标准归一法;测定了阳极铜标样中20种元素,测定结果与推荐值一致,RSD为0.1%～6.0%;实测了阳极铜熔炼过程中不同阶段的5个样品,结果满意.

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