HI,欢迎来到学术之家,发表咨询:400-888-7501  订阅咨询:400-888-7502  股权代码  102064
0

正交试验应用于密封结构泄漏影响因素的分析

作者:李骏 黄晓明 许国良 吕祥奎敏感性分析泄漏率正交试验法紧密度

摘要:为了评价密封结构泄漏率各因素的影响程度,在螺栓-法兰-垫片密封结构紧密度设计方法基础上,对比分析了几个对密封结构泄漏率影响较大的因素,其中垫片宽度、螺栓直径,工作温度、工作压力和螺栓预紧力对泄漏率影响显著。采用正交试验法分析了4个主要因素对泄漏率的影响程度,获得了各因素耦合作用下的最优化搭配。分析结果表明,垫片宽度和介质压力对密封结构泄漏率的影响最大。

注:因版权方要求,不能公开全文,如需全文,请咨询杂志社

应用科技

《应用科技》(CN:23-1191/U)是一本有较高学术价值的大型双月刊,自创刊以来,选题新奇而不失报道广度,服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《应用科技》集科学性、前沿性、实用性于一体,以高等院校、科研院所的科研人员以及相关学者为读者对象,主要设有船舶与海洋工程、智能科学与技术、现代电子技术、计算机技术与应用、自动化技术、机电工程、材料与化学、核科学技术与应用等栏目。

杂志详情