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Zn取代Cu对CCTO陶瓷高、低频介电性能的影响

作者:程花蕾; 肖健; 高鹏; 严云云; 周万城cacu3ti4o12陶瓷相结构微观形貌介电性能

摘要:采用传统固相法制备了CaCu(3-x)ZnxTi4O12(CCTO,x=0,0.04,0.08,0.12)陶瓷。用X线衍射仪和扫描电子显微镜研究了Zn^2+掺杂含量的变化对CaCu(3-x)ZnxTi4O12陶瓷的相结构、微观形貌的影响规律,并研究了CaCu(3-x)ZnxTi4O12陶瓷的低、高频介电性能。结果表明,少量Zn^2+的加入影响CaCu(3-x)ZnxTi4O12陶瓷的相结构和微观形貌。在低频范围内,CaCu(3-x)ZnxTi4O12陶瓷均具有巨介电常数(〉104),且CaCu2.92Zn0.08Ti4O12陶瓷的介电常数温度依赖性小,介电损耗最小,这加速了CCTO陶瓷在陶瓷电容器方向应用的潜力。在微波频段(5.85~8.2GHz)范围内,CaCu(3-x)ZnxTi4O12陶瓷均具有介电弛豫现象,CaCu(3-x)ZnxTi4O12陶瓷的介电常数实部随掺杂量的增加而减小,介电常数虚部和损耗对应的频率变化趋势与实部一致。

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压电与声光

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