作者：宋永; 杨阔lcr相敏检波微控制器矢量分解
摘要：针对传统LCR测试仪存在精度低、响应速度慢以及量程小等缺点,设计了一种基于双MCU的LCR测量系统。系统以ARM和CPLD双MCU为开发平台,利用CPLD+DDS技术产生系统所需的精密信号源,采用矢量电压/电流信号检测电路和相敏检波电路实现矢量信号的精密检测,选用S3C6410微控制器实现数字信号的滤波、转换以及矢量分解。多次测试结果表明,设计的LCR测试仪检测稳定性好,方差小于0.05%,检测精度高,各项性能符合设计指标。
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