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基于MAF-ICA的工业过程故障诊断

作者:刘春菊; 刘春玲; 李召自相关因子分析独立元分析贡献图故障诊断

摘要:针对复杂工业数据存在自相关的特点,提出一种基于最小/最大自相关因子分析(MAF)结合独立元分析(ICA)的故障诊断方法。首先利用自相关因子分析得到监测量的最大自相关矩阵,该矩阵包含数据信息的空间特征,并且去除了噪声;然后对其进行独立元分析,根据高阶统计信息,提取出独立元;并依据I2和SPE统计量值来判断系统的工作状态;最后采用变量贡献图对故障进行定位。将该方法应用到TE过程,验证了其可行性以及与ICA和MAF相比时的优越性。

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仪表技术与传感器

《仪表技术与传感器》(月刊)创刊于1964年,由沈阳仪表科学研究院有限公司主管,沈阳仪表科学研究院有限公司主办,CN刊号为:21-1154/TH,自创刊以来,颇受业界和广大读者的关注和好评。 《仪表技术与传感器》主要报导仪器仪表、敏感元件及传感器、电子元器件、检测设备、自动化控制系统以及相关的工艺技术、应用技术等,是中国仪器仪表行业最具影响力的期刊之一。

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