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测量纵向位移的光纤位移传感器

作者:黄云刚; 殷宗敏; 周俊鹤光纤位移传感器自聚焦透镜

摘要:提出了一种测量纵向位移的光纤位移传感器的方法.列出了3种可行性结构方案:双棱镜单光纤位移传感器、单棱镜单光纤位移传感器、双棱镜双光纤位移传感器,并对各自进行了理论推导以及系统仿真,得到了比较满意的结果.其中双棱镜双光纤位移传感器的性能最佳,在自聚焦透镜的半径为1 mm的前提下,检测纵向位移的范围可以达到4 mm,这为将来的实际应用提供了有效的参考.

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仪表技术与传感器

《仪表技术与传感器》(月刊)创刊于1964年,由沈阳仪表科学研究院有限公司主管,沈阳仪表科学研究院有限公司主办,CN刊号为:21-1154/TH,自创刊以来,颇受业界和广大读者的关注和好评。 《仪表技术与传感器》主要报导仪器仪表、敏感元件及传感器、电子元器件、检测设备、自动化控制系统以及相关的工艺技术、应用技术等,是中国仪器仪表行业最具影响力的期刊之一。

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