半导体元器件失效分析研究

作者：李玉蛟; 韦东电子元器件可靠性失效性分析

摘要：本文针对半导体元器件的经典失效案例进行筛选、汇总,按照失效类别、失效模式和失效原因进行分类统计,并对统计数据进行分析,对半导体器件失效分析的重要性及关键问题进行了阐述,认为失效分析对提高产品的可靠性具有非常重要的意义。失效分析对从事元器件检验、质量管理、元器件研制、采购和设计人员均具有重要的参考意义。

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