作者：张旋; 李晓强多级单元低密度奇偶校验码比特翻转译码算法
摘要：随着闪存编程/擦除循环次数的增加,多级单元（ Multi-Leal Cell,MLC ）的氧化隔离层被破坏,进而导致闪存的可靠性 急剧降低.针对这种情况,在深入分析MLC闪存信道模型和数据保持噪声模型的基础上,提出了一种 MLC型 NAND闪存的比 特翻转译码算法.仿真结果表明,在 MLC闪存信道下,该方法既可保证闪存单元的可靠性,又具有较短闪存单元的读取时间,从而实现了译码复杂度和性能间的良好折衷.
注：因版权方要求，不能公开全文，如需全文，请咨询杂志社
