基于STM32的偏振相关损耗测量系统设计

作者：徐宏宇; 刘潇偏振相关损耗stm32f407zg偏振控制器测量系统

摘要：设计了一种基于ST公司Cortex-M4内核的ARM系列产品STM32F407ZG偏振相关损耗测量系统,包括系统设计理论、软硬件设计结构及实现方法。光通过偏振控制器调整偏振态,通过待测物后送往后续的光电转换模块,经放大过滤到达A/D采集模块,最后送往主控单元M4进行处理完成测量。

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