基于FPGA的多通道并行高速采样研究

作者：王银玲; 李华聪时间交替采样模数转换并行处理

摘要：数据采样精度和采样速率是A／D转换的重要技术指标。目前受半导体工艺技术的限制，高采样精度的A／D芯片一般具有较低的采样速率。本文提出一种时间交替ADC采样技术，通过在时域上多通道并行交替采样，使采样速率达到原来单片ADC的多倍。最后进行多路交替采样试验，结果验证了该方法的正确性。

注：因版权方要求，不能公开全文，如需全文，请咨询杂志社