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BIT设计与发展综述

作者:董今朝; 谢永成; 李光升; 魏宁机内测试测试性虚警

摘要:机内测试BIT(Built—InTest)是一种能显著提高系统测试性和诊断能力的重要技术,是实现可测试性设计的重要技术手段之一。介绍了机内测试技术的定义、特点、分类、设计内容以及设计流程等,详细阐述了机内测试技术的发展历程,并对测试性技术的新趋势进行了探讨和展望。

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信息技术与网络安全

《信息技术与网络安全》(CN:10-1543/TP)是一本有较高学术价值的大型月刊,自创刊以来,选题新奇而不失报道广度,服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《信息技术与网络安全》现已更名为《网络安全与数据治理》。

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