作者:梁蓓; 杨健; 王义集成电路测试内建自测试测试矢量生成器低功耗测试矢量跳变
摘要:分析了CMOS逻辑电路的功耗来源,对低功耗内建自测试技术进行了研究。为了减少被测电路内部节点的开关翻转活动率,提高测试向量之间的相关性,研究了随机单输入跳变测试生成序列,可以在不损失故障覆盖率的前提下,降低被测电路的开关翻转活动率,实现测试期间的低功耗,特别适合于数字集成电路的内建自测试。
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《信息技术与网络安全》(CN:10-1543/TP)是一本有较高学术价值的大型月刊,自创刊以来,选题新奇而不失报道广度,服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《信息技术与网络安全》现已更名为《网络安全与数据治理》。
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