作者：陶新萱soc测试共时测试ate测试方法
摘要：共时测试是一种并行测试方法，基于机台硬件资源的独立性，结合软件的多端口特性，可对不同测试条件和测试原理的电路模块进行有效的并行测试。V93000具有per—pin的硬件结构，每个数字通道具有独立的测试处理器，满足共时测试的需求。在对不同V93000ATE机台中如何采用共时测试方法对SOC芯片进行测试讨论的基础上，重点对不同测试频率的并行实现方法进行分析，该方法相对传统的串行测试，可以有效降低测试时间。
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