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数字电路测试生成中的几种仿生优化算法

作者:王宇; 陈宇测试生成仿生优化粒子群算法人工神经元网络蚁群算法遗传算法

摘要:数字集成电路的快速发展对电路测试提出了日益紧迫的要求,为获得较好的数字电路的故障覆盖率和测试集,减少反向回溯,很多仿生学算法应用到了电路的测试生成当中,现介绍了在测试生成领域中有重大影响的几种仿生优化算法以及各自特点。

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信息技术

《信息技术》(CN:23-1557/TN)是一本有较高学术价值的大型月刊,自创刊以来,选题新奇而不失报道广度,服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《信息技术》的办刊宗旨是:大力宣传国家信息基础建设和信息产业发展形势,深入报导国内外信息技术(产品)发展趋势,交流信息化建设经验,推介信息产业界精英及其管理思想,提供信息技术(产品)市场前景与分析。

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