作者:李会雅; 王兰勋; 师建英低密度校验码短环译码性能校验矩阵
摘要:在基于Tanner图的基础上分析了短环对LDPC迭代译码准确性和有效性的影响,论述了短环的检测方法,并且给出了一种有效消去周长为4的短环的校验矩阵H的生成算法,并且对该算法构造的校验矩阵进行了仿真分析.
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《信息技术》(CN:23-1557/TN)是一本有较高学术价值的大型月刊,自创刊以来,选题新奇而不失报道广度,服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《信息技术》的办刊宗旨是:大力宣传国家信息基础建设和信息产业发展形势,深入报导国内外信息技术(产品)发展趋势,交流信息化建设经验,推介信息产业界精英及其管理思想,提供信息技术(产品)市场前景与分析。
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