作者：苏玉靖; 安岩; 孟夏; 马健; 刘东洋红外探测导引头标定非均匀性
摘要：在光电子技术中,红外探测技术是一种无源探测技术。在无光源照射目标的前提下,仅靠目标自身的红外辐射就能实现对目标的探测,其对应的大气窗口被开发利用得比较充分,特别是在军事及安防领域,红外探测技术应用广泛。因此,针对非制冷长波红外探测器在导引头整机体系内因光学系统、电器系统等环境因素对其焦平面阵列产生的改变其均匀性的情况,提出一种基于整机系统的标定方法。该方法对于提高导引头探测能力具有一定的实用意义。
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