作者：刘意; 高军; 王红涛; 刘洋; 刘建南sb3控制箱热测试潜在缺陷
摘要：在产品研发过程中,对产品进行环境试验,使其充分暴露潜在的设计、制造、装配等缺陷十分重要。本文通过对某仪器电控系统SB3控制箱进行热测试,获得SB3控制箱在常温条件下的热场分布,以及在特定环境温度下的各关键点温度;测试发现该SB3控制箱的多项潜在缺陷,并对其设计缺陷提出了相应的改进建议。通过改进有利于提升产品的固有可靠性与成熟度水平,从而提高用户满意度,减轻售后维修保障负担。
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