HI,欢迎来到学术之家,发表咨询:400-888-7501  订阅咨询:400-888-7502  股权代码  102064
0

键合球脱现象的调查分析及质量管控

作者:梁赛嫦键合球脱质量管控封装工艺

摘要:随着消费类电子产品的普及,集成电路封装产能巨大,这对于封装代工厂来说,既是契机,也是挑战。目前先进封装技术发展迅速,但传统封装出货量仍占主要份额,特别是超声波球压焊技术仍占封装键合工艺的主流。本文主要针对球压焊工艺中出现的球脱现象进行调查分析,解决封装不良导致的测试失效及可靠性不良等问题,并从量产角度上提出质量管控方法。

注:因版权方要求,不能公开全文,如需全文,请咨询杂志社

现代信息科技

《现代信息科技》(CN:44-1736/TN)是一本有较高学术价值的大型月刊,自创刊以来,选题新奇而不失报道广度,服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《现代信息科技》始终坚持学术第一的标准和科学、创新、前瞻、实用的原则,刊载电子信息科技领域研究的新进展、新技术、新成果,促进学术交流,推动成果转换,提高该领域研究水平和科技装备水平,服务我国经济社会发展。

杂志详情