组件单元失效下的相控阵雷达暴露区研究

作者：周志增; 刘洪亮; 顾荣军; 侯少岭相控阵雷达副瓣电平失效单元雷达暴露区

摘要：相控阵雷达组件单元失效会引起副瓣电平和天线增益的恶化，失效单元超过一定数量会严重影响到雷达的性能。详细讨论了单元失效对雷达天线副瓣、增益以及目标信号相参积累的影响。同时，结合某相控阵雷达天线模型，对外界存在有源干扰时的雷达暴露区进行了仿真分析。可以看出，单元失效使雷达副瓣电平抬高，进而导致雷达暴露区明显缩小。

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