HI,欢迎来到学术之家,发表咨询:400-888-7501  订阅咨询:400-888-7502  股权代码  102064
0

DC绝缘阻抗测试仪的设计与实现

作者:张志坚; 杨雷; 陈平平绝缘阻抗直流高压阻抗测试仪

摘要:针对电子电气等产品在生产过程中需进行DC绝缘阻抗测试的要求,设计并实现了一种基于Cortex.M3的DC绝缘阻抗测试仪。该测试仪以Cortex.M3作为核心控制器,配置DC高压产生电路、信号采集调理电路和LCD显示电路,从而达到对产品进行实时有效绝缘阻抗测试的目的。经实验证明,该测试仪能进行1MΩ~10GΩ的绝缘阻抗测量,且具有输出功率大、测量精度高等优点,可广泛应用于各类电子、电气等产品生产企业。

注:因版权方要求,不能公开全文,如需全文,请咨询杂志社

现代电子技术

《现代电子技术》(CN:61-1224/TN)是一本有较高学术价值的大型半月刊,自创刊以来,选题新奇而不失报道广度,服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。

杂志详情