基于扫描的集成电路故障诊断技术

作者：陶丽芳; 马琪; 竺红卫故障诊断扫描诊断全速诊断iddqiddt

摘要：随着集成电路技术的飞速发展，人们对集成电路产品的可靠性要求越来越高，这就要求集成电路测试特别是故障诊断提出了更高的要求。基于扫描的故障诊断方法是广泛应用的故障诊断方法之一。介绍基于扫描的集成电路故障诊断方法，并详细介绍了一种改进的扫描诊断方法和一种基于扫描的全速诊断方法。

注：因版权方要求，不能公开全文，如需全文，请咨询杂志社