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逐次截尾样本下电子元件混联系统可靠性指标的EB估计

作者:师小琳混联系统可靠性指标逐次截尾样本经验bayes估计

摘要:在逐次截尾样本下,研究电子元件混联系统可靠性指标的估计问题。将Bayes方法和极大似然法相结合,在平方损失下,获得部件失效率、系统可靠度和平均寿命的经验Bayes估计。最后给出随机模拟例子,说明该方法的正确性。结果表明可靠性指标的经验Bayes估计值精度较高。

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现代电子技术

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