高频光电导衰减法测试硅单晶少子寿命的精密度分析

作者：张园园; 杨素心太阳能级多晶硅少子寿命准确性重复性再现性

摘要：为验证少子寿命是否可做为太阳能级多晶硅级别判定的技术指标，将原生多晶硅区熔为硅单晶后，15家光伏实验室采用高频光电导法测试少子寿命。分别对硅单晶的表面和端面进行测试，分析两者重复性的差异，确定少子寿命取值已表面测试为准。采用Z比分数法对数据进行重复性检验、“值检验法进行准确性分析、疋。检验法进行再现性分析，最终得出少子寿命可作为多晶判级依据的结论。

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