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一种Tanner图短环计数新方法

作者:焦晓鹏 慕建君 周利华低密度校验码tanner图短环树结构展开

摘要:短环是影响低密度校验码迭代译码性能的重要因素.利用树结构展开的思想,通过分析无效短环和重复短环对计数结果的影响,得出了低密度校验码的一个短环计数公式.利用这一公式,提出了一种基于树结构展开的Tanner图短环计数算法,可对任意给定长度的短环进行计数,从而克服了现有短环计数算法仅能对特定长度短环计数的缺点.对一些典型低密度校验码的短环数量统计结果表明这种算法的正确性.

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西安电子科技大学学报

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