作者：张建伟 卢泳兵小尺度衰落信道损耗衰落速度衰落深度
摘要：小尺度衰落中的瑞利衰落和莱斯衰落是2种最为常见的无线接入信道衰落。从工程设计角度出发,重点分析了莱斯和瑞利信道条件下的2个重要指标——衰落深度和衰落速度,推导了相应的计算公式,特别是莱斯和瑞利信道条件下的衰落中值进行分析和计算。给出了在瑞利和不同莱斯因子条件下的PSK误码性能,为进行多径衰落无线接入信道的系统工程设计提供了参考。
注：因版权方要求，不能公开全文，如需全文，请咨询杂志社
《无线电工程》（CN：13-1097/TN）是一本有较高学术价值的大型月刊，自创刊以来，选题新奇而不失报道广度，服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《无线电工程》主要刊登内容为：国家基金项目论文、博（硕）士学术论文，跟踪与报道信息系统与网络、信号与信息处理、测控遥感与导航定位、电磁场与微波、专题技术与工程应用领域的最新科技成果和前沿技术，技术与市场紧密相结合。
北大期刊、统计源期刊
人气 541509 评论 58
人气 227175 评论 63
省级期刊
人气 184890 评论 72
北大期刊
人气 161088 评论 69
