作者：徐文娟 徐方圆国际会议无损检测华盛顿美国绘画文物保护机构国际学术会议艺术博物馆
摘要：2014年2月20日～23日，由国际博协文物保护委员会（ICOM-CC）、美国文物保护基金会联合举办，史密森尼美国艺术博物馆和国家肖像美术馆承办的“绘画表面无损检测：科学影响和保护实践”国际学术会议在美国华盛顿召开，该学术会议会期两天，重点关注绘画表面分析检测技术和仪器的最新进展，来自全球主要文物保护机构和本领域知名专家和学者共150多人参加了此次会议。上博博物馆文物保护与考古科学实验室的徐文娟、徐方圆2人应邀参加会议。
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