HI,欢迎来到学术之家,发表咨询:400-888-7501  订阅咨询:400-888-7502  股权代码  102064
0

基于电阻率成像技术的基坑渗漏探测方法

作者:蔡克俭; 殷亚斌; 廖智; 丁月双基坑渗漏电阻率成像地下水流线

摘要:随着城市建设的不断发展和进步,地下工程规模越来越大,各种超大超深基坑不断出 现,特别是在软土和地下水丰富、水位较高地区,由于基坑工程的渗漏问题导致的工程事故时有 发生.基坑渗漏是基坑止水帷幕施工中常见的一种施工缺陷,所以预先对基坑围护体系的渗漏 情况进行探测,若发现有渗漏区域在开挖之前及时进行处理与预防就显得尤为必要.这里阐述 基坑围护体系发生渗漏时,基坑周围地下水流线的变化特征,流线向渗漏处聚集,渗流位置的水 流线密集区域渗流阻力小,导致基坑周围土体的渗漏处电阻率变低.给出了基于电阻率成像技 术,通过探测基坑周围土体在基坑降水前后的电阻率变化,进行基坑渗漏探测的方法,并通过两 个工程实例说明该方法能探测出基坑渗漏三维位置,探测结果客观准确.

注:因版权方要求,不能公开全文,如需全文,请咨询杂志社

物探化探计算技术

《物探化探计算技术》(CN:51-1242/P)是一本有较高学术价值的大型月刊,自创刊以来,选题新奇而不失报道广度,服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《物探化探计算技术》融学术性与技术性于一体、理论与实践并重、兼顾普及与提高,旨在促进地球探测、信息处理的新理论、方法、技术的应用,发展和推动地质勘查、信息处理的理论、方法全方位地为国民经济建设各部门服务。

杂志详情