作者：郑世才细节识别技术级别缺陷检验
摘要：常规数字射线检测技术设计,主要是检测图像质量设计,它可称为检测技术级别设计。采用细节可识别理论关系式,在近似条件下给出了球孔、矩形缝与线形像质计识别的对应关系式。采用采样定理给出了双丝像质计指标设计关系式。应用这些关系式处理了气孔和未焊透检验技术级别的近似设计。
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《无损探伤》（CN：21-1230/TH）是一本有较高学术价值的大型双月刊，自创刊以来，选题新奇而不失报道广度，服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《无损探伤》检测科技刊物。旨在普及推广无损检测应用技术，促进我国无损检测事业的提高、发展和进步。主要报道射线、超声、磁粉、渗透、涡流、红外、声发射、微波、全息等NDT应用技术。
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