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GE传感与检测科技于世界无损检测大会上展示创新技术

无损检测创新技术ge传感涡流探伤仪视频内窥镜

摘要:中国上海-2008年10月26日-GE传感与检测科技在世界无损检测大会(WCNDT)展出其在无损检测(NDT)解决方案领域的最新创新技术。GE是10月26至28日在上海举行的WCNDT的主赞助商。本次展览中展出的,特别引人注目的一系列GE产品包括:第一台真正意义上的手持式工业视频内窥镜XLGo、CRxFlex计算机射线成像扫描仪(特别为NDT领域开发)、Phasee3系列便携式涡流探伤仪以及全新的Phasor系列便携式相控阵探伤仪。

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无损探伤

《无损探伤》(CN:21-1230/TH)是一本有较高学术价值的大型双月刊,自创刊以来,选题新奇而不失报道广度,服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《无损探伤》检测科技刊物。旨在普及推广无损检测应用技术,促进我国无损检测事业的提高、发展和进步。主要报道射线、超声、磁粉、渗透、涡流、红外、声发射、微波、全息等NDT应用技术。

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