基于独立分量分析的缺陷信号串扰消除

作者：查君君 何辅云独立分量分析定点算法漏磁检测缺陷信号串扰消除

摘要：漏磁检测设备中纵向传感器阵列特殊的物理结构,使得采集的缺陷信号之间不可避免地产生串扰,因而降低了检测设备的可靠性。结合采集信号的阵列特性,通过使用基于独立分量分析（ICA）的阵列信号处理方法,分离出各路消除串扰的源信号。仿真试验结果表明,ICA的定点算法可以消除信号之间的串扰,满足检测设备要求,具有较大的应用潜能。

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