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关于金属磁记忆检测中背景磁场抑制的讨论

作者:王丹; 徐滨士; 董世运; 董丽虹金属磁记忆检测背景磁场通道补偿法

摘要:通过具体试验,对当前金属磁记忆检测中普遍采用的利用通道补偿的背景磁场抑制方法进行了验证。结果发现通道补偿法并不能真正去除背景磁场对金属磁记忆检测的影响;同时,进一步对背景磁场对金属磁记忆检测的影响进行了分析,指出了相关的影响因素,并提出利用有限元分析消除背景磁场对金属磁记忆检测的影响的方法。

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无损检测

《无损检测》(CN:31-1335/TG)是一本有较高学术价值的大型月刊,自创刊以来,选题新奇而不失报道广度,服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《无损检测》系全国无损检测学学会刊,学会对外交流指定用刊,在国内外颇具影响,为国内无损检测领域权威刊物。

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