作者：李美成 王禄 熊敏 刘景民 赵连城分子束外延inas量子点反射式高能电子衍射实时原位微结构分析
摘要：介绍了利用反射式高能电子衍射（RHEED）方法在自组装InAs量子点制备过程中进行结构分析的理论研究与实验工作的最新进展。从反射式高能电子衍射在InAs量子点临界转变状态测定、量子点表面取向、量子点应力分布测定、量子点形核长大动力学过程研究等方面的应用，可以看出RHEED在InAs量子点形成过程中对多种结构特征的原位分析具有突出优势。反射式高能电子衍射仪作为分子束外延系统中的标准配置，已成为一种对InAs量子点微观结构进行分析的简易而理想的分析测试工具。随着反射式高能电子衍射以及衍射理论的进一步发展，必将促进InAs量子点结构的精确表征水平的提高，进而实现更加理想结构的InAs量子点的制备及其应用。
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