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基于耗尽型工艺的锂电池充电保护芯片设计

作者:张艳红 张滢清耗尽型互补金属氧化物半导体低功耗电压源过充电过放电

摘要:提出了一种基于耗尽型工艺的单节锂离子电池充电保护芯片设计。阐述了此芯片的设计思想及系统结构,并对芯片关键电路的独特设计方法及原理进行了详细分析,特别是基准电路和偏置电路,利用耗尽型工艺使电路具有非常低的电源启动电压和功耗。在Hspice中仿真了采用0.6μm的n阱互补金属氧化物半导体(CMOS)工艺制作全局芯片的测试结果。验证了此芯片具有过电压检测、过电流检测、0V电池充电禁止等功能,可用于单节锂离子电池充电的一级保护。

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微纳电子技术

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