作者:张跃喇曼微探针背散射喇曼强度取向参数晶向
摘要:介绍了利用喇曼微探针测量晶体晶向的原理,对该方法作了详细描述;阐述了利用喇曼微探针测量晶体晶向较其他一些测量方法的优越性.
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《微纳电子技术》(CN:13-1314/TN)是一本有较高学术价值的大型月刊,自创刊以来,选题新奇而不失报道广度,服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《微电子技术》被俄罗斯《AJ》收录、英国《SA》,INSPEC数据库收录、美国《剑桥科学文摘》收录《剑桥科学文摘》、剑桥科学文摘社ProQeust数据库、《物理学、电技术、计算机及控制信息数据库》、北大2014版优秀期刊、美国《ProQuest数据库》、美国《乌利希期刊指南》收录。
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