作者：朱传凤; 韩梅娟; 商广义; 万立骏; 沈玉全...高分子薄膜性能关系纳米结构phase统计方法光学功能客体分子带状结构微观结构非线性光学分子构象薄膜结构常温条件形成特征电场极化交联反应环状结构表面形貌表面呈现电光性能相关信息力曲线ito
摘要：应用AFM及力曲线的统计方法(force curve method)和Tapping/Phase功能,比较系统地研究了Glass/ITO基底上旋涂厚度为5μm的非线性光学功能高分子薄膜.结果发现,不同基底对于薄膜结构及分子构象没有明显影响.客体分子(molecule-2)在常温条件下能够以氢键的方式镶嵌在主体高分子(molecule-1)链上的-OH官能团周围和相邻的分子链间,形成特征的纳米级带状结构.ITO基底上非线性光学功能高分子薄膜在160～180℃条件下和经3000 V强电场极化后,客体分子和主体高分子不同程度地进行了化学交联反应,生成新的非线性光学高分子;薄膜的微观结构由常温时的带状结构变为纳米环状结构,膜表面呈现出均匀平滑的表面形貌,并获得了理想的电光性能信号.分子键合类型的变化使得薄膜的组分发生了变化,并引起了薄膜的微观结构的改变.力曲线的统计方法和Phase的相关信息为此提供了重要证据.
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