作者：王红胜; 徐子言; 张阳; 陈开颜; 李宝晨; ...高级加密标准光辐射分析攻击密码芯片汉明重量
摘要：通过研究密码芯片运行时的光辐射迹及其数据依赖性,建立了操作数汉明重量与泄漏光子数的对应关系,提出了一种简单有效的针对高级加密标准（AES）加密算法的密码芯片光辐射分析方法.根据密码芯片运行时的光泄漏特性,利用时间相关单光子计数技术搭建了光辐射分析攻击实验平台,在AES加密算法执行第一次的轮密钥加操作后和字节替换操作后分别进行光泄露信号采集,对基于操作数Hamming weight和AES密码芯片泄漏光子数对应关系的密钥分析攻击方法的有效性进行了实验验证,通过选择几组明文成功地破解了AES加密算法的密钥.实验结果表明,当密码芯片的泄露光子数与操作数的汉明重量呈近似线性关系时,该种光辐射密钥分析攻击方法对AES密码芯片的安全性构成了严重的威胁.
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