作者：郭亮良; 冯倩; 马香柏; 郝跃; 刘杰gan场板击穿电压电流崩塌
摘要：研究了钝化在抑制电流崩塌的同时，会引起HEMT器件击穿电压的下降．而采用场板结构的AlGaN／GaN场板HEMT器件（FP-HEMT）的击穿电压从46V提高到了148V，表明了场板对提高击穿电压有显著作用（3倍以上）．接着，比较了FP-HEMT器件与常规HEMT器件，钝化后HEMT器件在应力前后的电流崩塌程度，得出了采用场板结构比之钝化对器件抑制电流崩塌有更明显作用的结论．从理论上和实验上都表明，采用场板结构能够很好解决提高击穿电压与抑制电流崩塌之间的矛盾．
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