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利用双载流子四陷阱模型解释Zn:Fe:LiNbO3晶体记录过程中的自擦除现象

作者:孟庆鑫; 宫德维; 张建隆; 孙秀冬双载流子四陷阱模型自擦除铌酸锂晶体锌掺杂铁掺杂角度复用

摘要:比较了掺Fe量相同的两种晶体Fe:LiNbO3和Zn:Fe:LiNbO3的光折变性能,并且给出了Zn:Fe:LiNbO3晶体光电导和衍射效率与入射总光强的关系.在Zn:Fe:LiNbO3晶体二波耦合实验中观察到衍射效率随记录时间的增长先增加,达到饱和后又逐渐减小的自擦除现象,并采用光折变双载流子四陷阱模型对该现象加以解释.在此基础上选择合适的曝光时序,利用角度复用技术在该晶体中进行体全息存储,并在同一点上存入30幅图像.

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物理学报

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