作者：张进城; 郝跃; 李培咸; 范隆; 冯倩透射谱氮化镓薄膜厚度测量干涉效应折射率半导体材料
摘要：通过对蓝宝石衬底异质外延GaN薄膜光学透射谱的分析，结合晶体薄膜的干涉效应原理并考虑折射率随光子波长变化的影响，从理论上推导出了实用的薄膜厚度计算方法．实际应用表明，该方法是一种快速准确的GaN薄膜厚度测量方法．
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《物理学报》（CN：11-1958/O4）是一本有较高学术价值的大型半月刊，自创刊以来，选题新奇而不失报道广度，服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《物理学报》先后获得第一、二、三届国家期刊奖，2001—2010年度“百种杰出期刊”奖，中国科学院特别奖、一等奖等多项重要奖项，2009年获得“新中国60年有影响力的期刊”荣誉称号，2010年荣获出版界国家最高奖——中国政府出版奖期刊奖，2012年和2013年连续获得“中国最具国际影响力学术期刊”荣誉称号，2013年获得国家新闻出版广电总局评定的“全国百强科技期刊”。
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