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厚度可控薄板形Silicalite-1的制备

作者:姚小强 徐向宇 吕志 焦琨 宋家庆 李兆飞 ...形貌板形材料nh4fsio2hrtem

摘要:通过精细调整控制合成条件,在SiO2.TPAOH-H2O—NH4F(TPAOH:四丙基氢氧化铵)体系中制备出了厚度可控的薄板型Silicalite-1分子筛材料,并利用扫描电镜(SEM)、高分辨透射电镜(HRTEM)、粉末X射线衍射(XRD)及差热.热重分析(TG-DTA)对样品的结构信息、样品形貌及物理化学性质进行了表征.研究表明,NH4F浓度和反应体系pH值对Silicalite-1分子筛的形貌起着重要的导向作用.随着NH4F/SiO2的摩尔比(n(NH—F)/n(SiO2))由0增加到0.18,分子筛形貌由交互生长的椭圆形变为板形,其厚度也逐渐变薄:当n(NH4F)/n(SiOz)=0.4时,厚度达到最薄.继续增加NH4F/SiO2的摩尔比,其厚度增加,这是由于F^-提高了样品结晶度.HRTEM研究表明b轴垂直于平面,由于在MFI结构的材料中,b轴方向是其直孔道方向,这种材料有利于客体分子的进出.还研究了样品的热稳性,所有样品在1100℃焙烧2h后,其形貌和结构不发生变化.

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物理化学学报

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