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基于预充电和双采样技术的S/H电荷共享消除技术

作者:孙振亚 眭志凌 陈华 徐双恒 朱欢 张军开关电容采样保持记忆效应电荷共享预充电

摘要:针对开关电容采样/保持(S/H)电路中由负载电容记忆效应引起的电荷共享问题进行了建模.电荷共享效应会导致运放建立幅度增加,根据所推导的运放建立总公式,得出建立幅度增加会增大对运放功耗和带宽要求,或者降低建立速度.为改善该现象,基于预充电思想和双采样技术提出了一种优化方案,能在保持原S/H电路速度不变时,消除电荷共享效应对运放功耗和带宽的额外要求.仿真实现的12位100Msps双采样/保持电路证明了其有效性.

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微电子学与计算机

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