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一种有效的双矢量测试BIST实现方案

作者:张金林; 陈朝阳; 沈绪榜; 张晨soc测试双矢量测试maf模型

摘要:文章提出了一种简单有效的双矢量测试BIST实现方案,其硬件主要由反馈网络可编程且种子可重置的LFSR和映射逻辑两部分构成.给出了一种全新的USFR最优种子及其反馈多项式组合求取算法,该算法具有计算简单且容易实现的特点.最后,使用这种BIST方案实现了SoC中互联总线间串扰故障的激励检测,证明了该方案在计算量和硬件开销方面的优越性.

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微电子学与计算机

《微电子学与计算机》(CN:61-1123/TN)是一本有较高学术价值的大型月刊,自创刊以来,选题新奇而不失报道广度,服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《微电子学与计算机》是中国计算机学会会刊,本刊的宗旨是,严谨认真,求实创新;以人为本,研以致用;弘扬科学,追求真理。本刊国内公开发行,面向科研院所,厂矿技术人员、院校师生和管理人员,及时提供国内微电子与计算机行业最新科研成果。

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