作者：陈亚兰 肖玲混合集成电路颗粒碰撞噪声检测可靠性试验
摘要：介绍了混合集成电路PIND检测原理和试验不合格的原因及其控制办法；重点分析了具有固定波及满屏波特征的PIND失效来源；从试验方法、器件结构、工艺控制等三方面进行改进，取得了明显效果。
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《微电子学》（CN：50-1090/TN）是一本有较高学术价值的大型双月刊，自创刊以来，选题新奇而不失报道广度，服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《微电子学》报道内容有关微电子学基础理论，微电子器件与电路,集成电路，半导体工艺和制造技术，集成电路封装技术，多芯片组件技术，集成电路可靠性技术，片上系统，集成系统等领域的研究论文、技术报告、综合评述、产品应用等内容。
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